8.1.2. Неисправности микросхем.
1. Неисправность Flash ПЗУ (ROM). В описываемых семействах проблем с микросхемой Flash ПЗУ возникает относительно мало. Но, тем не менее, с микросхемами Flash могут происходить разрушение или затирание информации. При этом, как правило, плата не подает «признаков жизни», или в работе накопителя могут наблюдаться странности. Для диагностики такой неисправности необходимо считать из микросхемы Flash ПЗУ содержимое и сравнить с эталонным значением.
Если накопитель стартует и выходит в готовность, то считать содержимое Flash ПЗУ можно утилитой, используя подменю «РАБОТА С ПЗУ«. Если же накопитель не выходит в готовность, то считать содержимое ПЗУ можно только в Kernel mode (если для выбранного семейства утилита предоставляет такую возможность) или на программаторе, предварительно выпаяв микросхему.
ВНИМАНИЕ! При сравнении с эталонным значением необходимо помнить о байте флагов (адрес 2Bh от начала ПЗУ) и адаптивах — индивидуальных настройках гермоблока (см. 7.1, 5.2.2.9), они индивидуальны для конкретной модели накопителя. Поэтому при сравнении данные в них могут отличаться. Адаптивы используются в семействах MHM2xxxAT, MHN2xxxAT.
2. Неисправность VCM & SPM контроллера. Voice coil motor (VCM) — звуковая катушка, Spindle motor (SPM) — шпиндельный двигатель. Микросхема может страдать дефектом отслаивания подложки и локальным перегревом кристалла. При такой неисправности накопитель нормально раскручивается, выходит в готовность, работает и через некоторое время останавливает шпиндельный двигатель (дефект, аналогичный микросхеме TDA5247HT в накопителях Quantum).
3. Интегрированный чипсет содержит микропроцессор, у некоторых семейств — канал чтения/записи данных и интерфейсный контроллер. Неисправность этой микросхемы может проявляться по прогреву (особенно в летнее время), при выполнении циклов записи. При этом, как правило, из-за сбоя канала записи накопитель портит свои служебные модули. Косвенно о работоспособности микросхемы можно судить по наличию активности на линиях шины данных, подсоединенных к ПЗУ, микросхеме буферного ОЗУ. В противном случае необходимо убедиться в наличии питающих напряжений, генерации кварцевого генератора или постоянном сигнале «RESET«. Для полной проверки интегрированного чипсета необходимо тестировать накопитель в универсальной утилите, в циклическом режиме, при включенной записи не менее 3-х полных проходов. Если будут наблюдаться сбои накопителя, зависания (отсутствие готовности), затирание служебных модулей, то мс. неисправна. В некоторых случаях помогает отпайка интегрированного чипсета, замена припоя на контактных площадках платы и самой мс, промывка остатков старого флюса и запаивание мс обратно, с обязательной промывкой.